简介

MacMic System是一种可进行微观检查和宏观检查的检查系统。

  • MACRO : Macro System是从Index供应的Glass,使用照明装置,按Stage检查角度用肉眼检查Glass Mura及Scratch的设备。
  • MICRO : Micro system是从Index供应的Glass使用 Microscope进行精密检查的设备。

通过之前工程获得的Defect信息,将设置在Linear Motor上端的Microscope位置移动至Defect X、 Y坐标,通过Auto Focusing检测出Defect。Defect信息显示在LCD Monitor上。



主要构件

  • Glass Stage : Glass load/unload, alignment function
  • Glass Stage : 玻璃装载/卸载,具有对位功能
  • Laser Point :玻璃Mura坐标识别功能
  • Motion Unit : 具有X, Y, Z, 移动, 翻转, 旋转等调整检测角度的功能,可依据客户要求变更
  • Zoom Scope : 目检后进行精密检查. (可选)
  • VCR : (可选)
  • Illumination Unit : 金属卤化物灯 , 手持光源(卤素灯, LED灯)
  • 钠光灯, 背光 (荧光灯, LED 灯) 
  • 使用照明装置进行目检


Machine Key Specification

玻璃尺寸 4.5G, 5G, 5.5G, 6G, 7G, 8G
玻璃厚度 0.3T ~ 0.7T
Inspection Angle 15˚ ~ 90˚
玻璃对位方式和精度 Stage Align ( ± 200㎛)
工作高度 1450mm ~ 2350mm
Zoom Scope Magnification x10, x2 ~ x20
主要控制系统 I/PC : Industrial PC


主要构件

  • Glass Stage : 玻璃装载/卸载,具有对位功能
  • Microscope : 缺陷检查,可更换镜头倍率
  • Gantry Unit : 具有显微镜X,Y轴移动功能
  • Transmitted Light : 底部照明


Machine Key Specification

玻璃尺寸 4.5G, 5G, 5.5G, 6G, 7G, 8G
玻璃厚度 0.3T ~ 0.7T
镜头放大倍率 x2.5, x5, x10, x20, x50, x100(Option)
玻璃对位方式和精度 平台对位 ( ± 200㎛ - H/W )
CD 测量 距离可测
自动对焦 Pattern 图像比较方式
自动对焦时间 1sec
工作高度 1450mm ~ 1550mm
主要控制系统 I/PC : 工业电脑